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  • 微电子器件试验方法和程序GJB548A-1996方法2004A、2025A、2028,微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005方法2004.2、2025.1、2028,半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法2036,电子及电气元件试验方法GJB360A-1996方法211,电子及电气元件试验方法GJB360B-2009方法211,微电路试验方法标准MIL-STD-883H:2010 方法2004.6、2025.4、2028.4,半导体集成电路机械和气候试验方法SJ/T10745-1996第2.1条,引线牢固性JESD22-B105C:2003

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