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  • 《微电子器件试验方法和程序》GJB548A-1996方法2004A、2025A、2028,《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005方法2004.2、2025.1、2028,《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997方法2036,《电子及电气元件试验方法》GJB360A-1996方法211,《电子及电气元件试验方法》GJB360B-2009方法211,《微电子器件试验方法》标准MIL-STD-883H:2010 方法2004.6、2025.4、2028.4,《半导体集成电路机械和气候试验方法》SJ/T10745-1996第2.1条,《引线牢固性》JESD22-B105C:2003

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