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高加速寿命试验
这真不是您需要的服务？
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对应法规：Highly Accelerated Life Test-HALT/HASA/HSAA
CNAS认可项目：是 - 高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Test-HALT/HASA/HSAA) 加速应力试验源由Accelerated Stress Test，简称AST/ALT，源起于1960年代因应美国太空计划对高可靠度的需求而被发展出来。随着科技高度发展及快速变化的市场需求，过去耗时的产品验证方式已无法应付如此快速变化的市场需求，进而影响到产品于市场之竞争力。因此，如何快速且有效发现产品设计缺陷并于设计阶段加以修正，为现今国内外各大厂之主要关键问题，亦即是HALT&HASS逐渐被重视的原因。 众所皆知，产品在设计阶段进行缺陷修正是极为容易的，在大量生产后进行缺陷修正则困难度相对提高。微利时代若产品在市场于保固期内出现缺陷则所花费成本与商誉损失将无法计算。因此1990年代后以美国为首的国际各大厂(包括hp、Dell、Cisco、Nortel、Tetronix、 Motorola等)均相继以HALT手法作为新产品开发阶段迅速找出产品设计及制造的缺陷，同时改善缺陷已达降低保固期成本、增加产品可靠度并缩短产品上市时间。同时可利用HALT所发现之失效模式与相关数据做为后续研发产品的重要依据。目前有航空电子、汽车及信息等高科技产业皆已投入HALT 领域之测试，并且已有相当成效。 高加速寿命试验( Highly Accelerated Life Testing –简称HALT) 高加速寿命试验系利用渐进提升应力方式施加于产品，施加应力种类包括六自由度振动、高低温、快速温度循环、复合式应力、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。
