落下试验(Drop Test) 落下试验之目的通常为模拟两种落下情况，一种为产品在运输过程中因装载或搬运不慎造成掉落地面所遭受之撞击，此种掉落环境通常产品为包装状态(Package)，另一种环境系针对手持型产品(Hand Held Product)在未包装保护状态下因使用不当而使产品掉落地面产生撞击。 通常掉落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率(drop probability)做为参考基准，但对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度亦不尽相同，对于手持型产品(如手机、MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC对于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏，MIL则建议掉落高度为122cm，Intel对手持型产品(如手机)进行之调查则建议落下高度为150cm。