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  • 电子元器件通用电子产品介质耐电压检测

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    CNAS认可项目:是
  • 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009方法301,电连接器试验方法 GJB1217A-2009方法3001,含宇航级云母固定电容器通用规范GJB191B-2009第4.7.2,云母电容器总规范 GJB1313-1991第4.6.2,有和没有可靠性指标的1类瓷介电容器规范GJB468-1988第4.7.7,有可靠性指标的2类瓷介电容器总规范GJB924-1990第4.7.5,2类瓷介电容器总规范 GJB1314-1991第4.6.2,有可靠性指标的高压多层瓷介电容器总规范GJB1940-1994第4.7.5,有可靠性指标的单层片式瓷介电容器总规范GJB2442-1995第4.7.4,有可靠性指标的非密封多层式瓷介电容器总规范 GJB192A-1998第4.7.9,有

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