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  • 冷场发射扫描电子显微镜检测EDS检测

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    CNAS认可项目:是
  •  

     

     

     

    日本日立 SU8010   冷场发射扫描电子显微镜(SEM+EDS)

     

    主要配置:

     

    能谱仪(EDS);离子溅射仪(Au-Pd靶)等

     

    主要用途:

     

    用于有机和无机材料的微观形貌结构的研究,通过观察微观形貌以及元素的含量来控制样品的质量。

     

    主要技术指标:

     

    分辨率:0.3nm;

    加速电压:0.1 ~ 30kV (0.1KV);

    具有高位和低位二次电子探测器;

    样品台驱动:3轴马达驱动(包含 两轴手动);

    物镜光阑: 4孔可调式,内置加热自清洁装置

     

    主要学科领域:

     

    材料科学,矿山工程技术,能源科学技术,航空、航天科学技术

     

    服务技术领域:

     

    新材料及生产工艺和设备,纳米材料,其他

     

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