大家都知道评估电子元器件的检验方法有很多，现在就由启威测小编带大家了解一下冷热冲击试验。冷热冲击试验用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。又名温度冲击试验或高低温冲击试验，是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，适合电子、车辆、 金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片 IC、IT、等物理性变化的测试之用。

冷热冲击试验是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，评估电子元器件或其它测试样品经温度变化或温度连续变化环境下所受之影响。在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。

一、冷热冲击试验机参数

温度测试范围： -65℃~+150℃（高温：60℃~150℃，低温：-10℃~-65℃）

高低温转换时间：≤10S

高低温恢复时间 ：3~5min（非线性空载下）

二、参考测试标准：

IEC 60068-2-14:2009；

Environmental testing-part2-14:tests-test Na: change of temperature

GB2423.22-2002

电子电工产品环境试验 第二部分：试验方法 试验Na:温度变化

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