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深圳市赛特检测有限公司

检测认证人脉交流通讯录
  • 深圳供应低温存储寿命试验/STT赛特检测

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  • 对应法规:JESD22-A119
    CNAS认可项目:是
  • 实验目的

    为了考核低温对试样的影响,确定试样在低温条件下存储的适应性。该实验一般用到高低温 试验箱。

    实验原理

    低温下电子元器件的电参数会发生变化、材料变脆及其材料冷缩产生应力等。使电子元器件 处于低温环境下一定时间,考核电子元器件的电参数是否发生变化、材料是否变脆、材料冷缩 产生应力有多大等,从而确定电子元器件的抗低温能力。

    实验参考标准

    JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011

     


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