集成电路应力测试认证
附件标准
AEC-Q100-001 邦线切应力测试
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试
AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试
AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试
AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试
AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试
AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级
AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR)
AEC-Q100-009 电分配的评估
AEC-Q100-010 锡球剪切测试
AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试
AEC-Q100-012 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
A测试组
室温测试
预处理室温测试
高温测试
高温贮存
寿命试验
高温测试
功率
温度循环
*
有偏温湿度或高加速应力测试
温度循环
高压或无偏高加速应力测试或温湿度(无偏)
室温和高温测试
邦线拉力
高温测试室温测试
B组测试
室温高温低温测试
高温工作寿命试验
室温高温低温试验
室温和高温测试
早期寿命故障率
非易失性存储器耐久力,数据保持能力,工作寿命
室温和高温测试
内容较多,各位有需求联系我..
黄生18718473100 QQ914145532.邮箱chao.chy@163.com