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  • 主板,芯片类产品AEC-Q100测试

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  • 对应法规:AEC-Q100
    CNAS认可项目:否
  • 集成电路应力测试认
    附件标准
    AEC-Q100-001 邦线切应力测试
    AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试
    AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试
    AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试
    AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试
    AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试
    AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级
    AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR)
    AEC-Q100-009 电分配的评估
    AEC-Q100-010 锡球剪切测试
    AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试
    AEC-Q100-012 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
     
    A测试组
    室温测试
    预处理室温测试
    高温测试
    高温贮存
    寿命试验
    高温测试
    功率
    温度循环
    *
    有偏温湿度或高加速应力测
    温度循环
    高压或无偏高加速应力测试或温湿度(无偏)
    室温和高温测
    邦线拉力
    高温测试室温测试
     
    B组测试
    室温高温低温测试
    高温工作寿命试验
    室温高温低温试验
    室温和高温测
    早期寿命故障
    非易失性存储器耐久力,数据保持能力,工作寿
    室温和高温测试
     
    容较多,各位有需求联系我..
     
    黄生18718473100 QQ914145532.邮箱chao.chy@163.com

     

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黄生

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