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低温测试报告
这真不是您需要的服务？
- 低温测试报告 本文转自：http://www.diwenceshi.com/dwcszx/259.html 咨询：13570847473（同微信）QQ：646826608 低温测试为了测试产品长期在低温的环境中存储、运输与工作中能够正常的运行，不受低温的影响，试验的严苛程度取决于低温的温度和曝露持续时间。 低温测试 亿博低温测试实验室提供常规恒温恒湿箱，根据不同类型的产品，为您提供测试服务。 参考的测试标准：GB/T 2423.1，IEC 60068-2-1，EIA 364， MIL-STD-810F等。 低温测试目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制，是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。低温下材料物理化学性能。标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。主要用于科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子元件、化工材料等特殊材料的低温实验及储存。 低温试验 -30±2℃环境中放置4h,常温下放置2h后, 各尺寸、绝缘电阻、耐压、按键功能、回路电阻符合正常要求,且外观无变形、翘曲、脱胶等异常现象。 温度范围：-70℃～10℃。 按GB/T 2423.2—89 《电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法高温试验》; GB/T 2423.22—87 《电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法 温度变化试验方法》 进行低温试验及温度变化试验。 低温条件下试件的失效模式：产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。 低温环境对设备的主要影响有： a. 使材料发硬变脆; b. 润滑剂粘度增加，流动能力降低，润滑作用减小; c. 电子元器件性能发生变化; d. 水冷凝结冰; e. 密封件失效; f. 材料收缩造成机械结构变化。
