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硅片局部升温,根据拉曼光谱平移变化确定其局部温度的变化。

浏览:65   解答:1发布人:程康
  • 咨询方式:文本
  • 问题类别:询盘
  • 发布时间:2020-08-24 15:35:51
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问题描述:

硅片局部升温,根据拉曼光谱平移变化确定其局部温度的变化。

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已解答: (1)

2020-08-25

广州微平科技服务有限公司

类型:检测认证机构

http://www.weipingtest.cn/wpkj_gxyq 我们能做,欢迎咨询 预约须知 1,粉末量要求50mg左右; 2,固体/块状样品尺寸要求最小2*2mm,最大不超出5*5cm; 3,液体无法直接测试; 4,每样品测2个点左右; 5,其他特殊要求请先联系当地经理或拨打客服热线。 拉曼光谱(Raman) 型号: 法国HORIBA Jobin Yvon S.A.S公司 LabRAM HR Evolution; thermo dionex aquion; 显微共聚焦拉曼光谱仪 雷尼绍 inVia Qontor; Renishaw invia reflex共聚焦激光拉曼光谱仪,冷热台(-196°C~ 600°C) 测试项目: 325,514,532,633,785(325从200开始测,其余激光器波长都从50开始测) 更多测试要求请咨询客户经理; 样品要求: 1. 样品状态:可为粉末、溶液、块状、薄膜样品 2. 粉末样品:粉末要求至少50mg 3. 溶液样品:无法直接测试,需滴在硅片上烘干; 4. 块状、薄膜样品:固体样品尺寸要求最小2*2 mm,最大不超出5*5cm;一定要标明测试面! 5. 每样品测2个点左右
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