检测认证人脉交流通讯录
- X-RAY膜厚测量仪具备手动的测量台，可移动的范围是50MM*50MM，不需要打开测量门便可以移动不同测量，更方便操作。X-RAY膜厚测量仪测试方向由下向上照射的设计是只需要对准量位置，而不需要调校焦距便可以进行测量，并且由下向上的照射，极适合对一些较小的样板进行测量，X-RAY膜厚测量仪尤其是对手表、端子、小螺丝、螺丝帽、一些电气产品中的小五金零件等等，操作员只需将测试面朝下，不论大小的样品可直接放进测量室内，不用调距离，只需对准位置，便可立即测量，这不单可以令测量更快速，还可以避免因在调校测量距离错误时影响计算厚度。X-RAY膜厚测量仪是根据ASTM B568/ISO3497的规格进行设计的，WINFTM的控制软件，已成为多功能及准确度高的样板。X-RAY膜厚测量仪稳定性十分高，这使仪器减少佼准时间，便于管理和监测。
