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LTS-2000 单颗LED和LED模组加速老化寿命试验系统

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    • LTS-2000单颗LED和LED模组加速老化寿命试验系统,符合国际及国内对单颗LED和LED模组加速老化寿命试验各项参数的测量要求,满足用户测量需求。 ◆ 温度测量范围:0℃~250℃ ◆ 测量温度精度:±1℃ ◆ 恒温范围:40℃~150℃ ◆ 恒定电流输出可调 ◆ 恒定电压输出可调 ◆ 老练时间0~1000小时或无限 ◆ 具备多工位同时加速老化和寿命分析功能 ◆ 光度计V(λ)匹配:1级

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