检测认证人脉交流通讯录
SunScan作物冠层分析系统，植物冠层分析仪，林地冠层分析仪
用途：通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数(LAI)。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。
原理：根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程(Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。
产地：英国
