检测认证人脉交流通讯录
- 集成电路测试仪循环测试-判定间歇性故障元器件更准确 采用无条件或有条件循环测试模式,能够找到间歇性故障点和由温度引起的故障,并显示单个管脚的诊断信息. 简介: 可测元器件包含TTL系列,CMOS,存储器,大规模集成电路,接口芯片以及其它多达40管脚的器件,不断扩充的多达上千种元器件库,元器件库可以自行编程扩充升级.集成电路测试仪特点： ·操作简单方便·内置元器件库可扩充升级·未知IC型号查找·显示单个管脚故障诊断信息·元件代换查询·可选SOIC和PLCC适配座·可选编程软件与PC实时通讯测试·电池与直流供电·可以选择不同封装的测试座功能: Single-对测试座上的IC进行单次测试.Loop-无论结果如何,重复进行测试 P Loop-若测试结果为PASS,重复进行测试F Loop-若测试结果为FAIL,重复进行测试 Search-识别测试座上IC的型号 Diags-进行自我诊断测试 CmLink-进入 软件通讯模式Sw Off-将本仪器关机 专业的编程通讯软件(选配件) 可以扩充元件库的编程软件;与PC实时通讯测试软件;允许用户根据软件增加新元器件库,并产生新的功能测试,可以满足特殊的应用;软件采用PremierLink IC编程(PLIP);高水平的测试编程描述语言;最佳的模拟和数字测试程序;可通过RS-232或者USB接口连接电脑;本软件适合于ChipMaster和LinearMaster;
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刘峥
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