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针对单晶基片及其完美性分析或点阵失配外延层薄膜（晶体完整性和异质外延结构），通过高分辨X射线衍射测量（X射线双晶衍射摇摆曲线）提供微结构、微成分和微缺陷等方面的大量信息。
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王玉侠
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