瑞环深圳有限公司是全球著名企业日本精工电子在中国授权代理商主营：日本精工SFT9000系列荧光镀层测厚仪及RoHs元素分析仪；能量色散型X射线荧光分析仪；RoHs元素分析仪。

　　1978年全世界上第一台X射线荧光镀层测厚仪(型号：SFT155)诞生日本精工，精工为全世界X-RAY金属膜厚无损检测事业开创了先河.....三十多年来SFT及系列产品，在膜厚检测及多个分析仪器领域几乎成了品质和标准的代名词。瑞环有限公司将在大中国大陆，为五金电镀,汽车制造,半导体,PCB,连接器,珠宝首饰,科研机构等各种行业.提供世界一流的产品和最专业的服务。精工SFT9500高性能X射线荧光镀层厚度测量仪产品副名称：采用X射线聚光系统，适用于微小样品的镀层厚度测量及RoHS分析

　　产品型号：SFT9500、SFT9550、SFT9555

　　创新点：在所有XRF测厚仪厂商中率先使用了高灵敏度、高分辨率的SDD检测器(精工纳米自主研发的Vortex检测器)，和X射线聚焦导管技术。不仅克服了传统半导体检测器灵敏度不足的缺点，使得检测效率大大提高，并且可以轻松测量纳米级厚度的超薄镀层。0.1mm聚焦导管的使用可以在同样面积的情况下获得传统准直器方式数十倍以上的X射线强度，相当于用50W射线管产生500W射线管的强度。可以充分发挥Vortex检测器的优势。理论上SFT可以检测到0.5nm的镀金层厚度。SFT9500在RoHS有害元素检测中同样可以发挥其独特的优势，特别是细小镀层样品(例如半导体、电子元器件管脚)镀层所含有的有害重金属元素。使得难以分开的镀层有害元素分析成为可能。结合图形软件进行扫描绘图，可以描绘出各种元素的分布情况，轻易找到各种元素所处的位置，判断有害元素所处的部位。

　　仪器介绍：　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 SFT9500的X射线发生系统是X射线聚光系统(聚光导管)与X射线源相结合，产生束斑直径为Φ0.1mm以下高强度的X射线束。所以SFT9500可以对以往由于X射线照射强度不足而导致无法得到理想精度的导线架、接插头、柔性线路板等微小零件及薄膜进行测量。

　　同时，SFT9500采用了高计数率、高分辨率的半导体检测器(无需液氮)，在测量镀膜厚度的同时，对于欧盟的RoHS&ELV法规所限制的有害元素的分析测量也十分有效。

　　技术参数：SFT9500产品规格可测量元素：

　　原子序数13(Al)～83(Bi) X射线聚光：聚光方式X射线源：

　　管电压：50kV

　　管电流：1mA 检测器：

　　Vortex®检测器(无需液氮) 样品观察：

　　彩色CCD摄像头(附变焦功能)滤波器：

　　3种模式自动切换样品室：

　　样品平台240(W)×330(D)mm 移动量X：220mm Y：150mm Z：150mm 载重量：10kg 重量：123kg(不含电脑) 膜厚测量软件：

　　薄膜FP法(最多五层，各层十种元素)

　　检量线法(单层、双层、合金膜厚成分)定量分析功能：块体FP法统计处理功能：MS-EXCEL® 报告制作：MS-WORD® 主要特点：★X射线发生系统采用了聚光导管由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，从而可以提高微小样品的膜厚测量及有害物质测量的精度。★无需液氮的半导体检测器在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是必不可少的。SFT9500的检测器不但可以达到高分辨 率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。★能谱匹配软件(选配件)

　　可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。★块体检量线软件(适用于电镀液分析)(选配件)

　　可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。★绘图软件(选配件)

　　将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。★电镀液容器(选配件)★各种标准物质(选配件)陈先生：139252584970755-29799352深圳市宝安大道盐田商务广场A座421室网址：www.ruihuanhk.com