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光学轮廓仪 布鲁克(原veeco)Contour GT

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  • 主要规格:
  • 用  途:
  • 用于测三维形貌
    • Contour GT系统利用白光干涉来测量纳米级至微米级的表面形貌,并且具有业界最大视场下的最高垂直分辨率。仪器具备多种倍率物镜(1.25倍-100倍),可以表征具有不同表面形状和结构的样品。而且在任何放大倍数下,系统的纵向范围都能够达到亚-埃至毫米级,其灵活性无可比拟。 Bruker专利技术-高亮LED双光源照明-使测量结果不管在科研还是工业环境中都具有超高的可靠性和可重复性。Contour GT系列拥有同类产品最佳的易用性:简洁的操作界面通过对测量和数据获取过程的简化大大提高了系统和人力效率;独特的可视工作流程工具提供了直观的分析选项。 Contour GT系列光学轮廓仪可广泛的应用于:精密机械,光伏材料,电子材料,航空航天,光学材料和医疗器械等领域。
    北京华跃英泰科技有限公司

    王静

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