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　　品牌：美国UPA测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。如:单镀层：Ag/xx，双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx，化学镀层：Ni-P/xx。我司可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片，并附有标准片厚度值证书. 我司除了可以提供X射线镀层测厚仪标准片之外，还可以提供β射线测厚仪的标准片和库仑测厚仪的标准药水。并有β射线测厚仪和库仑测厚仪出售。

　　我公司是一精密测试仪器代理商，为顾客提供最优质的产品及服务。我公司在中国地区代理韩国MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射线测厚仪及美国Thermo第二代光学准直器X荧光测量仪。此两种仪器主要用于涂镀层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。欢迎随时来电咨询或亲临我司测试及参观!!!我们将竭力为您服务。

　　十多年来，我们一直服务于PCB厂商、电镀行业、科研机构、半导体生产、微电子、光电子、光通讯等电子行业。我们提供高质量的产品和最优质的服务都得到顾客最高的奖励，在未来,我们将继续履行顾客的期望、要求和需要，愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！