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JW-BK132F型 比表面及孔径分析仪

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  • 品  牌:
  • 主要规格:
  • 比表面积及孔径分析仪
  • 用  途:
  • 针对比表面及孔径分布的测定
    • JW-BK132F型 比表面及孔径分析仪 高真空系统,可以进行精确的超微孔孔径分布测试。 功 能 比表面测定: BET(单点、多点)比表面、Langmuir比表面、外表面测定; BJH孔径分布测定: 总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布; 微孔常规分析: 微孔总孔体积、总内表面积(t-图、D&R、MP等) 微孔孔径分布分析: 氮分压10-8 - 10-1范围的等温吸附曲线测定 0.35 - 2nm微孔孔径分布测试(HK、FS、NLDFT法) 技术参数 原理方法: 低温氮吸附,静态容量法 吸附气体: 高纯氮气,也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体 极限真空: ≤ 10-6 Pa ( 7.5×10-9 Torr) 氮气分压: 1×10-8 –0.995 控制精度: 测试压力点控制最小间隔可小于0.1 KPa (0.75 Torr) ,测试压力点可多达一千个 多级压力传感器压力测试精度达0.0001Pa (7.5×10-7 Torr) 10-8-10-1范围测试压力点大于50点 测试范围: 比表面 ≥ 0.005 M2/g,无规定上限 介孔孔径分析 2 - 400nm 微孔孔径分析0.35 - 2nm 测试精度: ≤±1.5% 0.35-2nm 微孔最可几孔径重复误差 ≤0.01nm 测试效率: 多点BET比表面每样平均20min 孔径分析时间随材质不同各异 预 处 理: 两样品同位处理,真空低于0.1Pa, 温度50 - 400℃,±1℃ 专用软件: BET(单点、多点)、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、 HK、FS、NLDFT等 特 色 ◎ 国内唯一可以精确测定微孔孔径分布的仪器,控制和测试精度达到国际先进水平, 工作站数量可根据用户要求单独设计、制造,可以代替进口; ◎ 真空度高,比表面和孔径分析的范围更宽,精度更高; ◎ 独有的抽气与充气速度精密控制技术,保证了测试的准确性和安全性; ◎ 独特的液氮面多途径控制与校正技术,连续测试10小时也不需添加液氮; ◎ 微孔常规测试有完善的标准等温线数据库和规范的分析方法,国内领先; ◎ 国内唯一拥有微孔分布测试的软件技术(HK、FS、NLDFT等) ◎ 专用软件功能齐全、界面友好、操作方便、实时显示样品的吸、脱附压力变化及平衡过程; ◎ 试验全过程自动化、智能化控制,长时间运行可以无人职守;
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    王若萱

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