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发射光谱/光源光谱测量系统

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    • 发射光谱/光源光谱测量系统 ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统 发射光谱/光源测量系统介绍 发光体,如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试,对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布,而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。 针对不同辐射光源的特性,可灵活选择测试系统,如:宽带光源和LED通常分辨率要求不高,可使用Omni-λ150系列单色仪系统;激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高,可使用Omni-λ300、Omni-λ500、Omni-λ750系列单色仪系统;宽波长范围(UV~IR),建议采用双出口单色仪接两个探测器;测试宽光谱范围的发光体,建议采用SD滤光片轮消多级光谱。 系统组成:分光系统+检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统

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