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VK-X100/X200形状测量激光显微镜

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  • 形状测量
    • 集显微镜· SEM · 粗糙度仪的功能于一身 • [全新] 数码显微系统观察 • 16 bit 激光彩色观察 • [广视野] WIDE-Scan • [简便] AI-Scan • 高分辨率,大景深观察 • 仿佛彩色 SEM • 无损轮廓和粗糙度测量 解决问题 激光扫描显微系统可以解决所有的课题 关于本产品的详细内容,请使用右上方的图标下载目录后确认。 使用激光显微系统则可全部简单地实现 光学显微镜 提升倍率后,难以对焦,分辨率不足。 SEM 前处理或样本尺寸等的准备烦琐,仅能以黑白色进行观察。 粗糙度仪 不能够实现一边放大观察,一边对工件部位实施非破坏性的凹凸测量。 有限的分辨率和放大倍数 光盘坑 (6000 倍) 景深浅 刀尖 (1000 倍) 不支持可追溯性 高分辨率, 最大放大24000 倍 光盘坑(6000 倍) 完全聚焦的清晰图像 刀尖(1000 倍) 符合溯源性要求 使用 VK 系列获得的测量结果是高度可靠的测量数据,并且符合国家标准溯源性。 产品特性 解决问题 激光扫描显微系统可以解决所有的课题 关于本产品的详细内容,请使用右上方的图标下载目录后确认。 使用激光显微系统则可全部简单地实现 光学显微镜 提升倍率后,难以对焦,分辨率不足。 SEM 前处理或样本尺寸等的准备烦琐,仅能以黑白色进行观察。 粗糙度仪 不能够实现一边放大观察,一边对工件部位实施非破坏性的凹凸测量。 有限的分辨率和放大倍数 光盘坑 (6000 倍) 景深浅 刀尖 (1000 倍) 不支持可追溯性 高分辨率, 最大放大24000 倍 光盘坑(6000 倍) 完全聚焦的清晰图像 刀尖(1000 倍) 符合溯源性要求 使用 VK 系列获得的测量结果是高度可靠的测量数据,并且符合国家标准溯源性。

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