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涂镀层厚度测量及材料成分分析

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  • 涂镀层厚度测量及材料成分分析
    • CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪,应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。 高性能X射线荧光光谱仪 • 快速精确的分析:正比计数探测器和50瓦微焦X射线管,大大提高了灵敏度 • 简单的元素区分:二次光束过滤器可以分离重叠元素 • 性能优化,测量元素范围广: 可预设参数 CMI900 提供800多种预设应用参数/方法 • 杰出的长期稳定性: o 自动热补偿测量仪器温度,纠正变化,提供稳定的结果 o 简单快速的光谱校准,定期检查仪器性能(如灵敏度),并提供必要的纠正 坚固耐用的设计 • 可以在实验室或生产线上操作 • 坚固的工业设计 • 经行业验证的技术,在全球销售量超过3000台 • 电子行业 • 五金电镀行业 • 金属合金行业 电子元件 有效调整生产过程,从而提高生产力 • 确保元件可靠性 o 测量焊料合金成份和镀层厚度 • 优化质量控制,从而确保产品生命周期 o 分析导电性镀层金和钯的厚度 o 测量电脑硬盘上的NiP层厚度
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    赵旭

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