检测认证人脉交流通讯录
- OPTM 系列显微分光膜厚仪 使用显微光谱法在微小区域内通过绝.对反射率进行测量，可进行高精度膜厚度/光学常数分析。 可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了 即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件。 头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度绝.对反射率（多层膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外） 区域传感器的安全机制 易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析 独立测量头对应各种inline客制化需求 支持各种自定义 测量项目： 绝.对反射率测量 多层膜解析 光学常数分析（n：折射率，k：消光系数） 显微分光膜厚仪https://www.chem17.com/st469006/product_35599161.html http://www.boming021.com/Products-37821551.html
