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EEG 性能测试仪 SEEG100
- 用 途：
- 专为法规标准设计的EEG脑电性能测试仪，符合国际标准: IEC 60601-2-26:2012、JJG 1043、JJF 1388、JJF 1390。适用于研发、法规符合性及产线测试
- SEEG 100脑电性能测试仪
专为法规标准设计的EEG脑电性能测试仪，符合国际标准: IEC 60601-2-26:2012、JJG 1043、JJF 1388、JJF 1390。适用于研发、法规符合性及产线测试
产品详情
产品简介
专为法规标准设计的EEG脑电性能测试仪，符合国际标准: IEC 60601-2-26:2012、JJG 1043、JJF 1388、JJF 1390。适用于研发、法规符合性及产线测试
产品特点
1.专为法规标准设计的EEG脑电性能测试仪，符合国际标准: IEC 60601-2-26
2.依据新的EEG国际法规标准IEC 60601-2-26:2012所设计
3.精密电路设计，可输出1µV微小讯号
4.9通道自动切换开关可作个别信道的性能测试
5.内建 620kΩ/4.7nF 输出阻抗测试的EEG标准测试电路
6.良好的屏蔽与接地设计让讯号输出更加准确
7.可做为EEG讯号拨放器，可拨放PhysioNet EDF、text、binary 格式的波型讯号
8.IEC 60601-2-26 小帮手可简化法规标准测试所需花费的人力与时间
产品规格
Parameter Specification System capability
Main output voltage accuracy ±1% for amplitudes of 0.2mVpp or higher ±0.3%
Main output voltage resolution (DAC resolution) 0.5μV 0.5μV
Frequency / pulse repetition rate accuracy ±1% ±0.1%
Pulse duration / timing accuracy ±1ms ±0.2ms
Resistor tolerance ±1% ±0.5%
Capacitor tolerance ±5% ±5%
Precision 1000:1 divider (100KΩ:100Ω ) ±0.2% ±0.05%
Sample rate 5kHz ± 0.1% 5kHz ± 0.05% (50ppm)
DC offset (fixed, noise free, from internal super capacitor) 300mV ± 1% 300mV ±0.1%
Power supply USB +5Vdc supply (no separate power supply required)
0.5A (high power mode) Typical load<0.25A, up to 0.45A is possible if all relays are turned on
Environment 15 ~ 30°C
