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XRF膜厚检测仪

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    • Thick800A 性能特点 满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光,可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点 高分辨率探头使分析结果更加准确 良好的射线屏蔽作用 测试口高度敏感性传感器保护 技术指标 型号:Thick 800A 元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 同时可以分析30种以上元素,五层镀层。 分析含量一般为ppm到99.9% 。 镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同) 任意多个可选择的分析和识别模型。 相互独立的基体效应校正模型。 多变量非线性回收程序 度适应范围为15℃至30℃。 电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm 重量:90kg XRF膜厚检测仪http://www.trt-instrument.com/Products-36600921.html https://www.chem17.com/st484160/product_36600921.html

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