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光谱响应

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    •   传统的量子效率系统在新型光电探测器面临许多测试方法挑战。如:   1.偏置电压无法超过 12V:传统量子效率系统使用锁相放大器,其承受直流电压无法过大,因此在一般的量子效率测试仪,电偏压无法施加超过 12V。   2.无法做噪声频率分析。   3.无法直接测得 NEP 与 D*。   光焱科技针对新世代的光电探测器 (PD) 提供了完整解决方案~命名为 PD-QE。   PD-QE 系统是光焱科技在过去十年的小光斑 (power mode) 基础上,进化开发完成。   PD-QE光谱响应测试与光电传感器特性分析 拥有以下几点特色:   *可应用在 PV 的 EQE 量子效率测试、新型光传感器的研究。   *在全新的软件平台 SW-XQE 上,具有便捷的扩展性:可测试标准 EQE 外,更可整合多种 SMU 的控制,并量测IV曲线。同时具备各种分析功能,如 D*、NEP、频率噪声图。   *PD-QE 有不同的模块,偏置电压也可由 20 V 到 1000 V。同时,可测量高分辨率的光电流,分辨率最高可达 10-16 A。   *波长扩充可达 1800 nm。   *可选配软件升级控制 Kiethley 4200 SMU。   光谱响应   http://www.guangyankj.com/Products-36808758.html   https://www.chem17.com/st487829/product_36808758.html
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