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品 牌：
华科智源
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出 厂 价：
1
主要规格：
用 途：
igbt测试，mos，二三极管，晶体管测试
华科智源-功率循环老化设备主要是针对IGBT/SIC的封装可靠性行进行实验,通过控制实验条件再现IGBT封装的主要两种失效方式:键合线失效和焊料层老化。实验的关键是控制结温的波动范围以及最高温度,得到不同条件下的实验寿命,从而得到IGBT的寿命。
深圳市华科智源科技有限公司
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