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一款精心设计的基于向量的 PXIe 数字测试模块，专为半导体特性分析和生产测试而设计。它提供了 8 个通道最高 200Mb/s 数据速率的数字信号激励输出与信号采集，使用定时设置和每通道PPMU功能。可通过增加模块灵活地调整数字通道数目。该模块具有数字向量编辑器以及历史RAM查看器、引脚状态和系统状态等调试工具。整个数字模块通过继电器阵列可实现模式选择（测试模式和校准模式）、输入时钟选择以及校准信号输入选择。
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