半导体器件老化测试筛选系统

ST-PC_X

*品      牌：  天光测控

*型      号：  ST-PC_X

*用      途：  可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等半导体器件的环境老化状态，作评估筛选检测。

*测 试类 别：  HTRB高温反偏，HTGB高温栅偏，H3TRB高温高湿反偏

*029*8730*9001/155*9666*8116，欢迎垂询

l 产品简述
      ST-PC_X半导体器件老化测试筛选系统是依GB/T29332-2012/IEC60747-9:2007 标准要求对器件测试，将栅极与发射极短接，在集电极与发射极间加上设定的直流电压，同时检测直流电压与漏电流的值。测试需有传感器直接检测 IGBT 模块壳温，并可通过软件输入模块结壳热阻，结合产生的耗散功率，当温度与漏电流超过设定值后，切断电源，给出警告信号。此设备是电力电子器件环境老化测试的重要检测设备，用于验证长期稳定情况下器件的漏电流。系统*大测试电压5000V（可扩展至10KV）。可以实现对IGBT器件集电极-发射极电压Vce、集电极发射极电流Ices、壳温Tc 、时间等各项参数的检测，根据程序设定自动完成测试，记录保存测试数据并且可以浏览和导出。
      测试夹具采用气动控制单面加热型。工作时通过温控仪和其他控制系统设定温度和时间，具备自动检测温度、超温报警、超压报警、过流保护及安全连锁、紧停等功能，异常时切断主电源。

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l 产品特性

1、可以通过计算机设定试验参数（Vce、Ices、Tc、时间、采样周期）和监控参数（Vce、Ice、Tc、T，实时采集并记录试验过程中每个工位的温度（Tc）、时间、电压、漏电流等，并可随时浏览数据。

2、 当被测器件失效时（Ices超限），系统能自动检测、报警，并可及时切断高压电源（不需要中断加热），停止试验，该失效点的详细数据会被记录下来，并记录失效时间节点。

3、 试验数据保存可以设定保存的时间间隔，设定时间范围为：10s-600s，但当器件检测失效时，可以自动保存失效前至少一个采样时间周期的详细数据，有助于对器件失效进行分析。

         4、该系统采用计算机记录测试结果，并可以将测试结果转换为“EXCEL”并保存。

         5、安全防护1：该设备具有超温保护、安全联锁等。

 6、安全防护2：配备独立于温控系统的干触点超温保护装置，在电路的发热位置配温度传感器，一旦有异常超温现象，发出警报并自动切断设备电源。

7、安全防护3：设备操作门配有安全连锁开关，操作面板配置急停开关，保证测试及设备维护时人员安全。                                       

        155*9666*8116王生，欢迎垂询。

                                                                                                天光测控2020.05.27/叶