TESA MICRO-HITE测高仪快速完成复杂测量任务的选择可以用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度或尺寸测量。同时可以进行一维或二维的测量。自动搜索孔和轴的顶点,在动态探测中记录最大,最小值以及最大最小值之间的差值计算。 TESA IG-13数字式测头可以测量垂直度、直线度、平行度等偏差和跳动误差,并以IS01101标准输出数据。
型号 | 350 | 600 | 900 |
mm 365 in 14 | 615 24 | 920 36 | |
用标准附件 | mm 0-520 in 0-20 | 0-770 0-30 | 0-1075 0-42 |
用侧头夹持器 NO.00760057 | mm 0-575 in 0-22 | 0-825 0-32 | 0-1130 0-44 |
用测头夹持器 NO.S07001622 | mm 0-745 in 0-29 | 0-995 0-39 | 0-1300 0-51 |
用标准附件 | (2+3·L)μm (L为m) (0.0001+0.000003·L)in (L为in) | ||
用标准附件 | ±2S≤2≤μm﹣±2S≤0.0001 in | ||
机械的垂直度(正面) 正侧面方向使用 TESA 1G-13测头 | μm 7 μm 6 | 9 8 | 11 10 |