检测认证人脉交流通讯录
- 1.产品简介
SHNTI的氮化硅薄膜窗口是一款价格非常优惠的产品，应用也非常广泛。它可以应用在TEM、X-Ray、SEM等等分析测试上。
在TEM上，可以完全避免碳膜的背景影响；在X-Ray上能够实现软X-射线（如真空紫外线）的最大透射率。特别在“离轴”状态工作（即薄膜与光束成一定角度）时，也需要较薄的薄膜窗口，便于X射线的更好穿透。
现有技术一般采用计量式或ST氮化硅薄膜，但ST薄膜具有较高的残余应力，不够结实，容易破裂。SHNTI提供的氮化硅薄膜窗口是一种低应力的承载工具（也可以作为微型培养皿、支撑膜），改进了原有技术的缺陷。SHNTI提供的氮化硅薄膜窗口具有良好的透光性、平整性、耐高温、化学惰性、亲水性、实用性、稳定性等。
2.产品规格
标准氮化硅薄膜规格（基底厚度525um或200um）：
Standard silicon nitride film window specifications (substrate thickness of 525um or 200um)
1、外框5mm×5mm，窗口大小1.5mm×1.5mm，膜厚50/100/150/200nm
Frame 5mm×5mm，window size 1.5mm×1.5mm，thickness 50/100/150/200nm
2、外框7.5mm×7.5mm，窗口大小3mm×3mm，膜厚50/100/150/200nm
Frame7.5mm×7.5mm，window size 3mm×3mm，thickness 50/100/150/200nm
3、外框3mm直径，窗口大小0.1mm×0.1mm×9，膜厚20/50/100nm
Frame diameter 3mm，window size 0.1mm×0.1mm×9，thickness 20/50/100nm
4、外框3mm直径，窗口大小1mm×1mm，膜厚20/50/100/150nm
Frame diameter 3mm，window size1mm×1mm，thickness 20/50/100nm
5、外框3mm直径，窗口大小0.1mm×1.5mm×2，膜厚20/50/100nm
Frame diameter 3mm，window size0.1mm×1.5mm×2，thickness20/50/100nm
非标准氮化硅薄膜窗口接受客户要求定制，但是订购量多，价格会降低。（一般建议100片以上订购，平均单价会比较低。）
