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X射线金属镀层测厚仪
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Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。其特点为：雷射自动对焦、全自动XYZ样片台、Point and Shoot 自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、具有竞争力的价格、五个准直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破坏性测厚仪器的首选机型。
深圳市鑫捷伟科技有限公司
林铭
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