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射频LCR测试仪4287A 4285A 4286A 8903E

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  • 品  牌:
  • 主要规格:
  • 4287A 4285A 4286A 8903E
  • 用  途:
    • ·1MHz~3GHz,以100KHz分档 ·阻抗测量范围宽,从200mΩ到3KΩ ·在低测度信号电平上具有优良的测量重复性 ·基本精度为1% ·高速测量9ms Agilent4287A射频测试仪   Agilent4287A射频测试仪LCR在1MHz~3GHz频率范围可以提供精确,可靠和快速测量,以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反向测量技术不同,采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。 生产率高,质量可靠   4287A适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量非常快。此外,在小测试电流(100μA)优良的测试重复性还可以显著提高生产率,因为所需的取平均过程非常短。 系统组建简单   测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件点测件接点附近,而不会使误差有任何增大。内置比较器功能,高速GPIB处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。 便于使用   8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外,若干APC-7 SMD测量夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用,从而无需制作专用夹具。 技术指标 (全面的技术指标参见数据资料表) 测量参数:|Z|,|Y|,θ-z(度/弧度)θ-y(度/弧度),G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D(可同时显示4种测量参数)。 测试频率:1MHz~3GHz 频率分辨力:100KHz 测试信号:V:4.47mV~502mV(f≤1GHz); 4.47mV~447mv(f>1GHz)      I:0.0894mA~10mA(f≤1GHz);0.0894mA~8.94mA(f>1GHz) 电平监视功能:电压,电流 基本的Z精度:±1.0% 测量范围:200mΩ~3kΩ(1MHz下,精度≤10%) 测量时间:每点9ms(最高速) Rdc测量:可用于触点检查 校准:开路/短路/负载/低损耗电容量 补偿:开路/短路,电长度 大容量存储功能:30MB固态大容量存储或2GB硬盘(选择选件) 接口:GPIB,:LAN(10Base-T/100Base-Tx自动选择),处理器接口 显示:8.4英寸彩色LCD显示器 一般指标 电源要求:90V~132V,或198V~264V,47Hz~63Hz,350VAmax 工作温度/湿度:5℃~40℃,相对湿度20%~80% 尺寸:234mm高×425宽×445mm深(主机) 重量:16kg/0.3kg(典型值)(主机/测试头) 主要技术资料 4287A射频LCR测试仪产品介绍,p/n 5968-5443E 4287A技术指标:p/n 5968-5758E LCR测试仪,阻抗分析仪和测试夹具选购指南,p/n 5952-1430E 订货信息 4287A射频LCR测试仪 供应的附件:测试头(1m),3.5~7mm适配器,16195B APC-7校准配件,鼠标器,键盘,操作手册和电源线(4287A不提供测试夹具)   选件001 删去16195B校准工具箱   选件002 删去测试夹具座   选件003 删去3.5mm~7mm适配器   选件004 增加工作标准套件   选件010 硬盘驱动大容量存储器   选件011 固态大容量存储器   选件020 增加电缆延伸套件 可提供的附件 16190B性能测试配件 16195B校准工具箱 16191A侧面电极夹具 16192A平行电极夹具 16193A小侧面电极夹具 16194A高温测试夹具 16196A用于1608(mm)的平行电极SMD夹具 16196B用于1005(mm)的平行电极SMD夹具 16196C用于0603(mm)的平行电极SMD夹具 16197A底面电极夹具

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