“高精度晶振综合测试仪GDS-80”参数说明

“高精度晶振综合测试仪GDS-80”详细介绍

基本介绍

高精度晶振综合测试仪GDS-80是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现智能化测量，符合IEC-444标准。高精度晶振综合测试仪GDS-80测量频率范围20KHz-100MHz，附RS-232接口进行数据通信。高精度晶振综合测试仪GDS-80特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。

高精度晶振综合测试仪GDS-80采用π型网络零相位法实现等精度测量。高精度晶振综合测试仪GDS-80测量精度高，速度快；具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量，可保存5个不同晶振频率和负载电容参数，负载电容在2-20P范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得更轻松。

性能特点

1.      阻抗值、ppm同时显示
2.      无需人工校对，直接测试多种参数
3.      新技术，符合IEC-444标准，满足国人需求，可替代进口设备
4.      LCD显示PPm超标提示功能

技术参数

3.1 测量范围： 3.1.1 频率测量范围：0.1 Hz ~ 100 MHz

3.1.2 周期测量范围：10 ns ~ 10 s 3.1.3 计数容量：1 10 8 3.1.4 ppm：1ppm 3.2 动态范围：50 mV ～ 1.5 Vms 3.3 输入耦合方式：AC 3.4 闸门时间：0.01s 、0.1s 、1s（可设定） 3.5 准确度： 时基准确度 触发误差 被测频率（周期） LSO 其中LSO = （100 ns / 闸门时间） 被测频率 （被测周期） 3.6 时基： 3.6.1 标称频率：10 MHz 3.6.2 频率稳定度：5 10 7/d 3.7 显示： 九位LED数码管显示 3.8 电源： 220 V 22 V 50 H z 2.5 Hz 3.9 整机功耗： 10 VA 3.10 可靠性：平均无故障工作时间MTBF 10000 h

采购须知

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