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HP4155B半导体参数分析仪HP4155A Agilent4155B
- The Agilent HP 4155B Semiconductor Parameter Analyzer offers four built-in source/monitor units (SMUs), two voltage source units (VSUs), and two voltage monitor units (VMUs). The HP 4155B is best suited for basic semiconductor applications with its non-kelvin connections, 10 V resolution, and 100 mA/100 Ohm measurement range.
Other features and specifications of the Agilent Semiconductor Parameter Analyzer include:
High-resolution/accuracy and wide range. I: 1 fA to 1 A (20 fA offset accuracy), V: 1µV to 200 V
Fully-automated I-V sweep measurements with dc or pulse mode
Expandable up to 6 SMUs
Synchronized stress/measure function
Two high-voltage pulse generator units (±40 V)
Time-domain measurement: 60µs–variable intervals, up to 10,001 points
Easy to use: knob-sweep similar to curve tracer
Automatic analysis functions
Automation: built-in HP Instrument BASIC, trigger I/O capabilities
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