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上海无线电设备研究所环境与检测实验室

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  • 《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 GB 3439-1982 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10741-2000 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第3

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