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电子器件开封检测
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对应法规：
CNAS认可项目：是
- GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序方法5003 微电路的失效分析程序方法5009破坏性物理分析3.6去除封盖程序GJB 1187A-2001 射线检验,GJB 4027A-2006军用电子元器件破坏性物理分析方法工作项目：0101、0102工作项目：0201、0202、0203、0204、0207、0208、0210工作项目：0701、0702工作项目：1001、1002、1003工作项目：1101、1102、1103工作项目：1201
