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扫描电子显微镜（SEM） X射线能谱仪（EDS） 扫描电子显微镜利用二次电子或背散射电子成像，对样品表面放大一定的倍数进行形貌观察，最大放大倍数可达80万倍，同时利用电子激发出样品表面的特征X射线来对微区的成分进行定性定量分析。 测试范围与服务项目：各种固体材料的形貌分析、微区化学成分检测，样品成分的线分布和面分布分析，表面成分分析。
深圳帆泰检测技术有限公司
张国平
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