检测认证人脉交流通讯录
SEM EDS 表面成分分析 形貌观察
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对应法规:GB/T 17359
CNAS认可项目:是
- 扫描电子显微镜(SEM)
X射线能谱仪(EDS)
扫描电子显微镜利用二次电子或背散射电子成像,对样品表面放大一定的倍数进行形貌观察,最大放大倍数可达30万倍,同时利用电子激发出样品表面的特征X射线来对微区的成分进行定性定量分析。
SEM分辨率3纳米
背散射电子成像分辨率300纳米
EDS成分分析的元素范围Be-U
分析深度1微米
检测下限1%
测试范围与服务项目:各种固体材料的形貌分析、微区化学成分检测,样品成分的线分布和面分布分析。