检测认证人脉交流通讯录
电子元器件通用电子产品引出端强度检测
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CNAS认可项目:是
- 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005方法2004.2试验条件A、B1、B2、D;,微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005方法2028(针栅),半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997方法2036试验条件A、试验条件E,电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009方法211试验条件A~试验条件E,半导体器件机械和气候试验方法 GB/T4937-1995第Ⅱ篇第1.1、1.2条