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  • 浅谈元器件失效分析现状以及解决方案

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  • 随着人们对电子产品质量可靠性的要求不断增加,电子元器件的可靠性不断引起人们的关注,如何提高可靠性成为电子元器件制造的热点问题。下面启威测小编和大家浅谈一下关于元器件失效分析现状以及解决方案。

    可靠性工作的目的不仅是为了了解、评价电子元器件的可靠性水平,更重要的是要改进、提高电子元器件的可靠性。所以,在从使用现场或可靠性试验中获得失效器件后,必须对它进行各种测试、分析,寻找、确定失效的原因,将分析结果反馈给设计、制造、管理等有关部门,采取针对性强的有效纠正措施,以改进、提高器件的可靠性。这种测试分析,寻找失效原因或机理的过程,就是失效分析。

    失效分析是对电子元器件失效机理、原因的诊断过程,是提高电子元器件可靠性的必由之路。元器件由设计到生产到应用等各个环节,都有可能失效,从而失效分析贯穿于电子元器件的整个寿命周期。因此,需要找出其失效产生原因,确定失效模式,并提出纠正措施,防止相同失效模式和失效机理在每个元器件上重复出现,提高元器件的可靠性。

    以上就是由深圳元器件失效分析实验室的小编整理提供,如还想了解更多资讯,欢迎关注启威测官网。我们启威测配合高科技电子产品设计、验证、生产过程中的检测需求组建科技实验室,以专业化之精神,满足您使用上之方便。以精益求精的完美品质,为科技领域奉献一份心力!

     


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