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深圳市赛特检测有限公司

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  • 材料表面特性与结构表征检测/STT赛特检测

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  • 对应法规:JY/T 010-1996
    CNAS认可项目:是
  • 基本原理:

    电子枪发出电子,经过加速电压加速后轰击到测试样品表面,激发出各种信号,其中有二次电子(SEI),被散射电子(BEI),特征X-ray,俄歇电子等信号,其中SEI及BEI用于成像,特征X-ray则用于材料表面元素分析。

     

    目的意义:

    通过对涂镀层、形貌、表面元素的测试,可以监控产品质量,有助于改善工艺。

     

    样品的要求:

    非磁性,不易潮解,且无挥发性的固态样品,尺寸要求:小于3CM*3CM*3CM样品。若样品不符合要求尺寸,须告知样品可否破坏!

     

    测试项目:

    1.表面形貌观察,断口观察 :JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则

    2.微薄镀层厚度测量 :GB/T 16594-1996 微米级长度的扫描电镜测量

    3.表面元素定性半定量分析 :GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则

    4.锡须观察 :JESD 22a121.01测量锡和锡合金材料表面晶须生长的测试方法

                         JESD 201       影响锡和锡合金材料表面晶须生长的可接受环境要求


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