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    CNAS认可项目:是
  • 专业电路失效检测,首选中天。

    电子电路失效分析

    适用产品:
    1.电子元器件包括元件(电阻、电容、继电器、开关、连接器等)、分立器件(二极管、三极管、MOSFET等)、集成电路(小、中、大、超大规模集成电路等)、微波器件、模块(电源模块、功率模块、频率模块等)、电路板及其组件。
    2.PCB板:金属基板、柔性电路板、无卤素基板
    3.PCBA:通孔焊接、SMT组装、BGA组装、MEMS
    检测项目:
    1.电子电路产品的机械性能、热学性能、电学性能、化学性能及可靠性分析;
    2. 电子电路产品长期使用可靠性产品评测;
    3. 电子电路产品使用过程失效后从物理及化学角度进行分析。
    基本程序:
    1. 信息收集(失效前后的背景资料);
    2. 外观检查失效前后产品的差异(金相和体式显微镜)
    3. 电性能测试(参数测试、功能测试等);
    4. 非破坏性物理分析(X-Ray、X-SAM等);
    5. 开封及去层(机械开封、化学开封与离子蚀刻);
    6. 内部形貌观察(立体显微镜、金相显微镜、SEM、切片);
    7. 内部电路分析(探针、FIB、电参数测试);
    8. 其他分析与实验验证(SEM-EDS、TTIR、XPS等)
    9. 综合分析与结论
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甘翠萍

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