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  • 对应法规::IPC-TM650-2.1.1/2.25 IPC-A-610D
    CNAS认可项目:是
  • 目的:电子元器件表面及内部缺陷检查及SMT制程改善&验证。 适用范围: 适用于电子元器件结构剖析,PCBA焊接缺陷,焊点上锡形态及缺陷检测等. 使用仪器:精密切割机,镶埋机,研磨及抛光机,金相显微镜,电子显微镜等。 测试流程:取样 镶埋 研磨 抛光 腐蚀 观察拍照 常规检验项目及标准:IPC-TM650-2.1.1/2.25 IPC-A-610D 1.PCB结构缺陷:PCB分层,孔铜断裂等 2.PCBA焊接质量检测: a.BGA空焊,虚焊,孔洞,桥接,上锡面积等; b.产品结构剖析:电容与PCB铜箔层数解析,LED结构剖析,电镀工艺分析,材料内部结构缺陷等; c.微小尺寸量测(一般大于1um):气孔大小,上锡高度,铜箔厚度等。 测试报告示例: (1)测试设备: 名 称 型 号 校准有效期 金相显微镜 AXIO Imager. A1m 2010年09月15日 (2)环境条件:温度:23±2℃; 湿度:55±5%RH (3)参考标准:IPC-TM 650 2.1.1 (4)测试样品:001 (5)测试条件:样品经过切割、冷镶、研磨、抛光后,用金相显微镜对其测试位置进行放大观察并拍照。 (6)测试结果: 样品 测试位置 结果描述/上锡量 判定规格 (客户提供) 评判结果 001-CE12 信号脚 接口润湿良好,孔内垂直填充高度约为57%. 爬锡高度 标准:信号 脚>75%;接 地脚>50%。 拒收 接地脚 接口润湿良好,孔内垂直填充高度约为36%. 拒收 001-CE55 信号脚 接口润湿良好,孔内垂直填充高度约为67%. 允收 接地脚 接口润湿良好,孔内垂直填充高度约为56%. 允收 合格率 50%
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