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国家有色金属及电子材料分析测试中心

检测认证人脉交流通讯录
  • 硅研磨片及少数载流子寿命及扩散长度检测

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  • 对应法规:
    CNAS认可项目:是
  • 用稳态表面光电压法测量硅中少数载流子扩散长度的标准方法 SEMI MF391-0708,用微波反射非接触光电导衰减方法测试硅晶片载流子复合寿命的方法 SEMI MF1535-0707

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