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对应法规:ISO17025
CNAS认可项目:是
- 扫描电子显微镜&X射线能谱仪应用介绍
关键字:SEM&EDS 组织形貌观察 化学成分分析 失效分析
原理:扫描电子显微镜/X射线能谱仪(SEM&EDS)理论依据是电子与物质之间的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征射线和连续谱X射线、背散射电子、以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。原则上讲,利用电子和物质的相互作用,可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。SEM/EDS正是根据上述不同信息产生的机理,对二次电子、背散射电子的采集,可得到有关物质微观形貌的信息,对x射线的采集,可得到物质化学成分的信息。
主要特点
1.样品制备简单,测试周期短;
2.景深大,有很强的立体感,适于观察像断口
那样的粗糙表面;
3.可进行材料表面组织的定性、半定量分析;
4.既保证高电压下的高分辨率,也可提供低电
压下高质量的图像。
应用范围
1.材料组织形貌观察,如断口显微形貌观察,镀层表
面形貌观察,微米级镀层厚度测量,粉体颗粒表面
观察,材料晶粒、晶界观察等;
2.微区化学成分分析,利用电子束与物质作用时产生
的特征X射线,来提供样品化学组成方面的信息,可
定性、半定量检测大部分元素(Be4-PU94),可进
行表面污染物的分析;焊点、镀层界面组织成分分
析。根据测试目的的不同可分为点测、线扫描、面
扫描;
3.显微组织及超微尺寸材料分析,如钢铁材料中诸如
马氏体、回火索氏体、下贝氏体等显微组织的观察
分析,纳米材料的分析;
4.在失效分析中主要用于定位失效点,初步判断材料
成分和异物分析。
技术参数
分 辨 率:高压模式:3nm,低压模式:4nm
放大倍数:5~100万倍
检测元素: 4 94
Be -PU
最大样品直径:200mm
图象模式:二次电子、背散射
联系人:刘桂峰(小姐)
电话:0755-36606294/133 9289 1250
邮箱:liuguifeng@mttlab.com
地址:深圳市宝安区石岩镇松白路方正科技园A3栋一楼