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对应法规：GB/T17359-2012
CNAS认可项目：是
he resolution of SEI is 3.0nm,the resolution of BEI is 4.0nm analysis the failure defect of product amplification factor：X300,000 the range of tested element of the sample is No.4 - No.92
苏州台表科技检测有限公司
夏于洋
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