HALT & HASS是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为世界范围内电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT & HASS的试验方式已成为很多新电子产品上市前所必需通过的验证。为使广大客户了解HALT/HASS方法的目的意图及方法步骤，摩尔实验室(MORLAB)特简要介绍如下： 一、HALT（High Accelerated Life Testing）高加速寿命试验 HALT是一种通过让被测物承受不同的应力，进而发现其设计上的缺限，以及潜在弱点的实验方法。HALT的主要目的是通过增加被测物的极限值，进而增加其坚固性及可靠性。HALT利用阶梯应力的方式加诸于产品，能够在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。其加诸于产品的应力有振动、高低温、温度循环、电力开关循