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光学显微镜(OM)检查
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对应法规:GB
CNAS认可项目:是
技术原理: 光学显微镜的成像原理,是利用可见光照射在试片表面造成局部散射或反射来形成不同的对比,然而因为可见光的波长高达 4000-7000埃,在分辨率 (或谓鉴别率、解像能,指两点能被分辨的最近距离) 的考虑上,自然是最差的。在一般的操作下,由于肉眼的鉴别率仅有0.2 mm,当光学显微镜的最佳分辨率只有0.2 um 时,理论上的最高放大倍率只有1000 X,放大倍率有限,但视野却反而是各种成像系统中最大的,这说明了光学显微镜的观察事实上仍能提供许多初步的结构数据。 应用范围: 光学显微镜的放大倍率及分辨率,虽无法满足许多材料表面观察之需求,但仍广泛应用于下列之各项应用,例如: 1)PCB表面质量及可焊性测试检查 2)PCBA、电子元器件金相切片观察、染色实验检查 2)IC开封后观察 3)金属材料金相分析、晶粒度检查、孔隙率检查、非金属夹杂物检查、断口观察 4)涂/镀层厚度测量
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